一种基于原子力显微镜的纳米颗粒浓度测量方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201910839493.0 （22）申请日 2019.09.05 （71）申请人 苏州大学

地址 215000 江苏省苏州市相城区济学路8号

（10）申请公布号 CN110426335A

（43）申请公布日 2019.11.08

（72）发明人 杨浩;程亮;李相鹏;彭明发;蔡逸凡;朱博韬;宣光辉 （74）专利代理机构 宁波高新区核心力专利代理事务所(普通合伙)

代理人 尤莹

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种基于原子力显微镜的纳米颗粒浓度测量方法

（57）摘要

本发明公开一种基于原子力显微镜的纳米

颗粒浓度检测方法，包括：快速制备待测纳米颗粒样本；将所述样本置于原子力显微镜的真空吸盘上，沿样本的直径方向选择多个待测点，分别对所述待测点进行扫面及图像采集；分别统计各待测点图像中纳米颗粒个数，并绘制曲线图；将对称位置被测点的颗粒数目总数取平均值，重新绘制曲线图。根据新的曲线图的分布规律计算圆内的纳米颗粒浓度。本发明使用原子力显微镜

(AFM)测量纳米颗粒，特别是未知浓度的纳米颗粒具有制样简单快速、原位测试、灵敏度高、不破坏样本等优点，能够最大限度同时测出未知样本的真实浓度、颗粒的粒径和表征、形态等参数。

法律状态

法律状态公告日

2019-11-08 2019-11-08 2019-12-03

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效

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权利要求说明书

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说明书

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