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专利名称：一种缺陷检测机及系统专利类型：实用新型专利发明人：张金星,赵华国申请号：CN201822153657.8申请日：20181220公开号：CN209432716U公开日：20190924
摘要：本实用新型涉及检测技术领域，具体而言，涉及一种缺陷检测机及系统。一种缺陷检测机，用于管线状产品的缺陷检测和字符检测，包括钣金框架、导轮组件、编码器组件以及视觉检测组件。钣金框架用于限定检测空间。导轮组件设置在检测空间内，以用于引导管线状产品在检测空间内，沿检测空间的延伸方向运动。编码器组件与钣金框架连接，编码器组件用于检测管线状产品的运动。视觉检测组件用于接收编码器组件输出的信号，并对在检测空间中运动的管线状产品进行拍照，以将拍摄的照片与标准照片进行比对，并判断管线状产品的缺陷。该缺陷检测机结构简单、易于操作，能够稳定和高效地测量管线状产品的表面缺陷和字符检测。
申请人：武汉镭立信息科技有限公司
地址：430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道58号关南福星医药园5栋5层07号
国籍：CN
代理机构：北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：刘曾
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