一种测量设备响应时间的测试装置

（12）实用新型专利

（21）申请号 CN201320560858.4 （22）申请日 2013.09.10

（71）申请人 北京广利核系统工程有限公司;中国广核集团有限公司

地址 100094 北京市海淀区永丰路5号院5号楼

（10）申请公布号 CN203444733U

（43）申请公布日 2014.02.19

（72）发明人 时建纲;邹华明;裴红伟;孟广国;龙威;井占发 （74）专利代理机构 北京元中知识产权代理有限责任公司

代理人 王明霞

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种测量设备响应时间的测试装置

（57）摘要

本实用新型公开一种测量设备响应时间的

测试装置，包括接收信号激励端信号的被测设备和示波器，所述示波器连接有检测被测设备光亮变化的光电检测器，所述光电检测器包括检测被测设备变化区域的响应检测器和检测被测设备恒定区域的补偿检测器，以及接收响应检测器和补偿检测器信号并输送到示波器的信号处理电路。本实用新型通过设置补偿检测器能够在被测试环境变化较大时，为响应检测器提供温度倍增补

偿，同样当被测设备的光亮变化不明显时，补偿检测器能够根据恒定区域的光亮为响应检测器提供亮度倍增补偿，通过上述方式使得响应检测器检测的信号更加准确，而且能够适应的检测范围更加广泛。

法律状态

法律状态公告日

2014-02-19

法律状态信息

授权

法律状态

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权利要求说明书

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说明书

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